裝置誤差對砝碼檢定結果有何影響：

　　裝置誤差指計量器具及其附件本身機構上不夠完善，或者安裝、調整不得當*引起的誤差。對計量檢定工作，采用的計量標準器具*提供的標準量值不是**，它隨時(shí)間和隨空間位置變化時(shí)也不是*穩定，存在著(zhù)誤差。計量標準裝置的配套設備及附件也會(huì )引起誤差，這些誤差就是*謂的計量標準誤差，會(huì )傳遞給被檢定的計量器具。對于砝碼檢定工作來(lái)說(shuō)，引起裝置誤差的因素主要是檢定*用標準砝碼的*性問(wèn)題和檢定時(shí)*用天平的計量性能可靠問(wèn)題。

　　針對M2等級砝碼的檢定來(lái)說(shuō)，在檢定前，*先應確定*使用的F1等級標準砝碼是否有具備檢定資質(zhì)的計量技術(shù)機構的檢定合格證書(shū)及證書(shū)是否在有效期內；是否*直在妥善使用或保管并認真查看其儀器使用記錄表格，對儀器使用狀況做到胸有成竹。另外，*配套的機械天平*般為（TG328A/B、TG332A型）或相對應的萬(wàn)分*和十萬(wàn)分*的電子天平(推薦賽多利斯天平*)。機械天平的標尺分度值、天平的不等臂性誤差、天平的示值誤差和電子天平的偏載誤差、重復性、示值誤差都會(huì )對砝碼檢定結果的*性帶來(lái)較大的影響，*以，查看*用天平是否具有有效期內的檢定證書(shū)，并在砝碼檢定前，再次詳細的對*用天平的主要參數進(jìn)行檢定或自檢，達到減少或消除裝置誤差的目的