有磁砝碼為何檢測不過(guò)關(guān)?

   在質(zhì)量計量工作中，砝碼是實(shí)物量具，用于復現質(zhì)量量值。用來(lái)制造砝碼的材料性能好壞，質(zhì)量?jì)?yōu)劣將直接影響砝碼質(zhì)量的穩定性，進(jìn)而影響到全國質(zhì)量的**致及統- -。新的砝碼規程要求，制造砝碼的材質(zhì)必須選擇具備穩定的物理化學(xué)性能、*定的強度、非常小的磁化率以及*磁性能好等*-些條件方能保持砝碼在較長(cháng)時(shí)間內質(zhì)量值的*穩定。

    目前，我國的標準砝碼，已經(jīng)研究出了磁化率較小的JF1型，材料密度為8.0g/cm3的不銹鋼砝碼。但是這種砝碼售價(jià)較*，除省級計量部門(mén)擁有外，大部分地市縣級計量部門(mén)仍使用材料密度為7.85g/em3的不銹鋼砝碼，但它的*磁性能還不夠理想。在長(cháng)期的檢定中，我們發(fā)現有如下問(wèn)題。

  問(wèn)題的發(fā)現

  今年我們在檢定*套送檢的二等砝碼時(shí)，用了兩臺天平檢定，在檢定10g砝碼時(shí)，發(fā)現兩臺天平檢定的結果相差很大，超出了規程規定的檢定*度的五分之四。(按規程要求，終檢定結果為二人檢定結果的算術(shù)平均值，而二人檢定結果之差不超過(guò)檢定*度的五分之四。二等10g砝碼的檢定*度是0.06。)復檢多次也是如此。

  而我們檢定*用的天平: -臺是上海產(chǎn)的332A型天平，另*臺是北京產(chǎn)的WT2A型天平，這兩臺天平的計量性能合格，且在檢定周期之內，檢定用的標準砝碼是*等標準砝碼， 標準砝碼合格，且在檢定周期之內。

  為此我們又調出2003~ 2004年的檢定結果，進(jìn)行比較，數據見(jiàn)表1

為驗證檢定結果,我們又換了*套標準砝碼,對上海天平和北京天平上分別進(jìn)行比對,其結果見(jiàn)表2。

  表2檢定結果表

  .上海  北京標稱(chēng)值

  左盤(pán)  右盤(pán)  左盤(pán)  右盤(pán)

  10g  *0.09g  0.06g  0.07g  *0.08g_

  從以上對比數據看,我們歷年的測量結果與，上海天平左盤(pán)測量結果*-致,而北京天平與上海天平右盤(pán)*測結果*- 致。

  應該說(shuō)明的是,我們*用的兩臺天平不但計量性能合格,而且我們在這兩臺天平上均采用同樣的方法，檢定了很多組二等標準砝碼,都沒(méi)有發(fā)現此類(lèi)問(wèn)題。

  我們又用自已的二等標準砝碼做試驗,驗證上海天平與北京天平檢定結果是- -致的。2問(wèn)題的初步分析

  通過(guò)從各方面找原因及驗證,我們認為這里不存在疏忽誤差,歷年的檢定結果是事實(shí)存在，而我們的反復驗證對比也是事實(shí)。*以不能隨便舍棄哪-個(gè)檢定結果。

  在平時(shí)的量值傳遞工作中,我們檢定砝碼時(shí)往往習慣于二人同用*臺天平，同用- -套標準砝碼,但這時(shí)的檢定結果除非出現大的疏忽誤差,*般都不會(huì )出現什么問(wèn)題，二人的檢定結果容易對得上。然而,這樣的檢定結果都存在同樣的系統誤差和偶然誤差,從誤差理論的角度講,我們*說(shuō)的提*測量*度不*要提*測量結果的*密度,還要保證測量結果的正確度。

  由量值傳遞的可溯性及量值傳遞的**致性可知,在量傳中如果分別用不同的標準設備進(jìn)行傳遞,其結果也應是*致的。如果不完全*致,可在* -定程度上反映出傳遞當中出現的系統誤差和偶然誤差,利于發(fā)現傳遞中存在的問(wèn)題，提*測量*度。

  基于這種指導思想，這兩年我們采用二人分別各用

臺天平各自檢定*遍砝碼的方法,檢定了多組二等克組毫克組盒裝砝碼。二人檢定結果都滿(mǎn)足了規程要求。

  從上面的數據中,我們可以看到，如果我們歷年同用*臺天平檢定,就不會(huì )發(fā)現這個(gè)問(wèn)題,進(jìn)而我們自然會(huì )認為是傳遞*。但事實(shí)是失準了,這個(gè)砝碼如果再錯誤地傳遞下去,很可能在以后的傳遞中給科研、生產(chǎn)造成損失。

  在質(zhì)量量值傳遞中，人員、設備、環(huán)境和測定方法等因素都可能帶來(lái)測量誤差。

  從對比數據中可以看出,不同的檢定人員及環(huán)境條件*帶來(lái)的誤差均在正常檢定的誤差之內,可以排除上述因素造成的較大系統誤差。從使用設備來(lái)看，只有北京天平*測的數據與其它數據不同。同時(shí)我們也驗證了北京天平的計量性能是合格的，檢定其它二等砝碼時(shí)與在上海天平*測到的結果是*致的。*以,我們現在應集中考慮被檢砝碼和*用天平之間存在的問(wèn)題。